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Hiden Analytical－第 10 頁
Hiden Analytical 是英國專業四極桿質譜儀製造商，擁有超過 40 年的設計、研發與製造經驗，專注於先進研究、真空診斷與製程監測應用。產品涵蓋即時氣體與蒸氣分析（Gas Analysis）、殘餘氣體分析（RGA）、催化與熱分析、電化學質譜（DEMS／OEMS）、電漿離子分析、SIMS 表面分析及特殊取樣系統等完整解決方案。Hiden 系統廣泛應用於半導體、真空科技、材料科學、能源、催化、化工、電化學與學術研究，並可依不同應用需求提供模組化與客製化質譜分析方案。
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專為氫、氦同位素與輕質氣體分析設計的超高解析度四極桿質譜儀；支援 Zone H / Zone 1 雙穩定區切換，適合核融合燃料、同位素分離與高解析真空氣體分析。Learn MoreDLS-20－氫氦同位素超高解析度四極桿質譜儀 -
專為托卡馬克、核融合與強輻射環境設計的遠端 RGA 系統；分析器可距離敏感電子設備最高 140 m，支援 DLS-1 TIMS 氫氦同位素與核融合燃料氣體純度分析。Learn MoreHAL 101X RC－核融合與強輻射環境遠端殘餘氣體分析系統 -
Hiden HPR-40 DEMS 差分電化學質譜系統，可即時分析電化學反應中的氣體、揮發性產物與溶解物種，適用於電催化、燃料電池、CO₂ 還原、電池、腐蝕及能源材料研究。Learn MoreHPR-40 DEMS 即時差分電化學反應氣體分析系統 -
Hiden HPR-20 OEMS 線上電化學質譜系統，可即時連續分析電池與電化學反應產生的氣體及蒸氣，支援超低流量取樣、Headspace 與電化學電池連接，適用於鋰電池、電解液分解、電催化及能源材料研究。Learn MoreHPR-20 OEMS 線上電化學氣體質譜分析系統 -
Hiden FIB-SIMS 為現有聚焦離子束 FIB 系統提供高性能 SIMS 分析能力，可進行奈米級元素表面 Mapping、3D Depth Profiling、同位素及原子／分子離子分析，適合半導體、薄膜、電池與先進材料研究。Learn MoreFIB-SIMS－聚焦離子束二次離子質譜奈米材料分析系統 -
Hiden LAS 全自動高通量密封洩漏質譜分析系統，專為鋰電池、微型氣瓶及中小型密封組件的氣密性與洩漏率檢測設計，可分析 He、Ar、CO₂、水氣及揮發性電解液物種，支援自動 Pass / Fail 判定。Learn MoreLAS－全自動高通量密封洩漏質譜分析系統 -
Hiden HPR-40 MIMS 膜進樣質譜分析系統，專為液體中的溶解氣體、蒸氣與揮發性有機化合物分析設計，可應用於海水、地下水、河口水、污泥、沉積物及反硝化研究，標準質量範圍 200 amu，具 sub-ppb 等級高靈敏度分析能力。Learn MoreHPR-40 MIMS－膜進樣溶解氣體與揮發性物種分析系統 -
Hiden pQA 可攜式四極桿質譜分析系統，專為地下水、河川、海洋、沉積物、土壤及發酵樣品中的溶解氣體現場分析設計。標準質量範圍 200 amu，可選 300 amu，具 sub-ppb 等級靈敏度，支援 12 V、電池、太陽能及 220 V 供電。Learn MorepQA－可攜式四極桿溶解氣體分析系統 -
Hiden QIC BioStream 多流路生物反應器氣體分析系統，可連接 20、40 或 80 路發酵槽與生物反應器，連續分析 Off-Gas 與 Dissolved Gas Species。整合 Proteus 多流選擇閥、QIC 快速加熱進樣、QGAsoft 定量分析與 Soft Ionisation，適合發酵、生物製程開發、平行反應器與製程監控。Learn MoreQIC BioStream－多流路發酵與生物反應器氣體分析系統