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Hiden Analytical－Electrochemistry DEMS
Hiden Analytical 是英國專業四極桿質譜儀製造商，擁有超過 40 年的設計、研發與製造經驗，專注於先進研究、真空診斷與製程監測應用。產品涵蓋即時氣體與蒸氣分析（Gas Analysis）、殘餘氣體分析（RGA）、催化與熱分析、電化學質譜（DEMS／OEMS）、電漿離子分析、SIMS 表面分析及特殊取樣系統等完整解決方案。Hiden 系統廣泛應用於半導體、真空科技、材料科學、能源、催化、化工、電化學與學術研究，並可依不同應用需求提供模組化與客製化質譜分析方案。
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Hiden HPR-40 DEMS 差分電化學質譜系統，可即時分析電化學反應中的氣體、揮發性產物與溶解物種，適用於電催化、燃料電池、CO₂ 還原、電池、腐蝕及能源材料研究。Learn MoreHPR-40 DEMS 即時差分電化學反應氣體分析系統 -
Hiden HPR-20 OEMS 線上電化學質譜系統，可即時連續分析電池與電化學反應產生的氣體及蒸氣，支援超低流量取樣、Headspace 與電化學電池連接，適用於鋰電池、電解液分解、電催化及能源材料研究。Learn MoreHPR-20 OEMS 線上電化學氣體質譜分析系統 -
Hiden FIB-SIMS 為現有聚焦離子束 FIB 系統提供高性能 SIMS 分析能力，可進行奈米級元素表面 Mapping、3D Depth Profiling、同位素及原子／分子離子分析，適合半導體、薄膜、電池與先進材料研究。Learn MoreFIB-SIMS－聚焦離子束二次離子質譜奈米材料分析系統 -
Hiden LAS 全自動高通量密封洩漏質譜分析系統，專為鋰電池、微型氣瓶及中小型密封組件的氣密性與洩漏率檢測設計，可分析 He、Ar、CO₂、水氣及揮發性電解液物種，支援自動 Pass / Fail 判定。Learn MoreLAS－全自動高通量密封洩漏質譜分析系統