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Hiden Analytical－第 8 頁
Hiden Analytical 是英國專業四極桿質譜儀製造商，擁有超過 40 年的設計、研發與製造經驗，專注於先進研究、真空診斷與製程監測應用。產品涵蓋即時氣體與蒸氣分析（Gas Analysis）、殘餘氣體分析（RGA）、催化與熱分析、電化學質譜（DEMS／OEMS）、電漿離子分析、SIMS 表面分析及特殊取樣系統等完整解決方案。Hiden 系統廣泛應用於半導體、真空科技、材料科學、能源、催化、化工、電化學與學術研究，並可依不同應用需求提供模組化與客製化質譜分析方案。
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研究級 UHV Ion Desorption Probe，可直接分析電子、光子與熱刺激解吸產生的低能正負離子、中性物與自由基，支援離子能量分布與時間解析研究。Learn MoreIDP / IDP 1000 Series－UHV 離子解吸與低能離子分析質譜儀 -
高精度 Triple Filter Quadrupole RGA，適合科學研究、製程氣體分析、精密同位素比與 UHV 應用，具高解析度、高質量傳輸與延伸 Mass Range。Learn More3F Series / 1000 Series RGA－高解析高精度殘餘氣體分析質譜儀 -
MBE 多源分子束原位監測質譜系統，提供高靈敏度 Cross-Beam Analysis、即時沉積訊號與低成長速率監測，適合 MBE 製程控制與分子束研究。Learn MoreXBS－MBE 多源分子束監測與沉積控制質譜系統 -
Hiden的3F PIC系列四極杆是高精度的三濾分析儀，帶有數字檢測器，在超高真空TPD應用中具有極高的靈敏度和時間解析度。Learn More3F PIC / 1000 Series PIC－UHV TPD 快速事件高靈敏度氣體分析系統 -
專為 Tokamak 核融合研究設計的四極桿質譜系統，利用 Threshold Ionisation Mass Spectrometry（TIMS）即時定量氫同位素、氘、氦及輕質氣體，適合燃料純度、真空診斷與核融合氣體分析。Learn MoreDLS-1－核融合氫同位素與氦氣 TIMS 定量質譜分析系統 -
專為核融合燃料分析、氫同位素、氘化物、真空診斷與洩漏偵測設計的雙穩定區四極桿質譜系統；可於 Zone 1 與 Zone H 自動切換，兼具 RGA 與超高解析度分析能力。Learn MoreDLS-2 / DLS-2X－核融合氫同位素超高解析質譜分析系統 -
專為氫、氦同位素與輕質氣體分析設計的超高解析度四極桿質譜儀；支援 Zone H / Zone 1 雙穩定區切換，適合核融合燃料、同位素分離與高解析真空氣體分析。Learn MoreDLS-20－氫氦同位素超高解析度四極桿質譜儀 -
專為托卡馬克、核融合與強輻射環境設計的遠端 RGA 系統；分析器可距離敏感電子設備最高 140 m，支援 DLS-1 TIMS 氫氦同位素與核融合燃料氣體純度分析。Learn MoreHAL 101X RC－核融合與強輻射環境遠端殘餘氣體分析系統 -
高靈敏度 UHV SIMS / SNMS 表面分析系統，整合 Dynamic SIMS、Static SIMS、正負二次離子、薄膜深度剖析、元素成像與 SNMS，可依研究需求配置多種 Primary Ion Source。Learn MoreSIMS Workstation－高靈敏度二次離子質譜表面分析系統