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Hiden Analytical－第 4 頁
Hiden Analytical 是英國專業四極桿質譜儀製造商，擁有超過 40 年的設計、研發與製造經驗，專注於先進研究、真空診斷與製程監測應用。產品涵蓋即時氣體與蒸氣分析（Gas Analysis）、殘餘氣體分析（RGA）、催化與熱分析、電化學質譜（DEMS／OEMS）、電漿離子分析、SIMS 表面分析及特殊取樣系統等完整解決方案。Hiden 系統廣泛應用於半導體、真空科技、材料科學、能源、催化、化工、電化學與學術研究，並可依不同應用需求提供模組化與客製化質譜分析方案。
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Hiden XPS for SIMS 將 XPS、UPS、AES、SAM、ISS、LEIS 與 SIMS 整合於同一 UHV Surface Science 平台，可同時取得元素組成、化學鍵結、化學態與高靈敏度深度剖析資訊；採用 SPECS PHOIBOS 150 HV、1D-DLD Detector 與 HSA 7000 高穩定電源，適合薄膜、半導體、能源材料與多技術表面分析研究。Learn MoreXPS for SIMS－XPS / SIMS 多技術超高真空表面分析系統 -
Hiden CATLAB-PCS 為整合催化微反應器與四極桿質譜儀的催化研究系統，可進行催化劑表徵、反應測試、TPD、TPR/TPO、脈衝化學吸附及動力學與熱力學研究。Learn MoreCATLAB-PCS 催化微反應器與質譜分析系統 -
Hiden QGA 2.0 新一代即時定量氣體分析質譜系統，可連續定量分析 0.1 ppm 至 100% 的多種氣體與蒸氣，具最高每秒 1000 次量測、<300 ms 快速反應、7 decade 動態範圍與 QGAsoft 多成分定量分析功能，適用於催化、氫能、CO₂ 轉化、氣體反應與製程監測。Learn MoreHiden QGA 2.0 即時定量氣體分析質譜儀 -
Hiden HPR-20 TMS 為高速瞬態氣體分析質譜系統，具快速反應與高靈敏度量測能力，適用於快速氣體切換、反應動力學、SCR、SSITKA、脈衝反應及 Operando 研究。Learn MoreHiden HPR-20 TMS 快速瞬態氣體分析質譜儀 -
Hiden HPR-20 R&D 高靈敏度即時氣體分析質譜系統，採用 Triple Filter 四極桿質譜技術與加熱式 QIC 石英惰性毛細管取樣，具備高解析度、高選擇性與快速反應能力，適用於催化反應、熱分析、痕量氣體及即時反應氣體監測。Learn MoreHiden HPR-20 R&D 高靈敏度即時氣體分析質譜儀 -
Hiden HPR-20 EGA 為專用於 TGA-MS 熱重分析的即時逸出氣體質譜系統，可連續分析熱重分析儀產生的氣體與蒸氣。系統搭配加熱式 QIC 石英惰性毛細管、乾式 Scroll Pump 與 EGAsoft 軟體，適合材料熱分解、脫附、氧化還原及熱穩定性研究。Learn MoreHiden HPR-20 EGA TGA-MS 熱重分析逸出氣體質譜系統 -
Hiden SpaciMS 為催化反應器內部空間解析質譜分析系統，可同步量測徑向、軸向氣體成分與溫度分布，透過 16 通道毛細管取樣與快速質譜分析建立反應器內部 3D 化學與溫度分布圖。Learn MoreSpaciMS 催化反應器空間解析質譜分析系統 -
Hiden TDSLab Series 為超高真空熱脫附質譜分析系統，包含 TDSLab-6、TDSLab-9 與 TDSLab-20，可進行氫脆、半導體、光伏材料、同位素與核融合材料的 TPD／TDS 高靈敏度分析。Learn MoreTDSLab Series 超高真空熱脫附質譜分析系統 -
Hiden 3F PIC / 1000 Series PIC 為超高真空快速事件專用三重濾波四極桿質譜分析系統，具高靈敏度、高時間解析度與高速資料擷取能力，特別適合 UHV TPD、瞬態脫附、脈衝氣體與表面反應研究。Learn More3F PIC / 1000 Series PIC 超高真空快速事件質譜分析系統