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Hiden Analytical－第 2 頁
Hiden Analytical 是英國專業四極桿質譜儀製造商，擁有超過 40 年的設計、研發與製造經驗，專注於先進研究、真空診斷與製程監測應用。產品涵蓋即時氣體與蒸氣分析（Gas Analysis）、殘餘氣體分析（RGA）、催化與熱分析、電化學質譜（DEMS／OEMS）、電漿離子分析、SIMS 表面分析及特殊取樣系統等完整解決方案。Hiden 系統廣泛應用於半導體、真空科技、材料科學、能源、催化、化工、電化學與學術研究，並可依不同應用需求提供模組化與客製化質譜分析方案。
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Hiden QIC MultiStream 為多成分、多流路即時氣體分析系統，整合四極桿質譜儀與 Proteus 自動多流選擇閥，可配置 20、40 或 80 路取樣，支援高、低流量氣體條件與 OPC 資料整合，適合製程監測、環境分析、燃料氣體、生質能與多來源氣體研究。Learn MoreHiden QIC MultiStream 多流路即時氣體質譜分析系統 -
Hiden HPR-20 DLS 為氫同位素與低質量氣體分析專用的超高解析度質譜系統，可分離極小質量差異的氣體物種，適合核融合、氫／氘／氚同位素、氦同位素及高階輕質氣體研究。Learn MoreHiden HPR-20 DLS 氫同位素超高解析度氣體質譜分析系統 -
Hiden HPR-20 EPIC 為具正、負離子偵測能力的即時氣體質譜系統，整合 Electron Impact、APSI-MS 軟電離與 EA-MS 電子附著質譜模式，可分析電負性氣體、負離子及電漿反應中的穩定自由基母分子，適合電漿化學、反應動力學與進階氣相研究。Learn MoreHiden HPR-20 EPIC 正負離子電子附著氣體質譜分析系統 -
Hiden HPR-20 S1000 為具 1000 amu 高質量範圍的即時氣體與蒸氣分析系統，搭載 3F Triple Filter 四極桿質譜儀、雙 Faraday 與 Pulse Ion Counting 偵測器，檢測能力可低於 5 ppb，適合高分子量氣體、蒸氣、複雜反應產物與高階氣相研究。Learn MoreHiden HPR-20 S1000 1000 amu 高質量範圍即時氣體質譜分析系統 -
Hiden HPR-60 MBMS 為多級差動抽氣分子束質譜系統，可直接取樣大氣壓電漿及反應氣相中的中性物種、自由基與正負離子，降低取樣過程中的壁面碰撞與二次反應，適合電漿化學、反應動力學、燃燒、催化及高反應性氣相中間體研究。Learn MoreHiden HPR-60 MBMS 分子束質譜儀－自由基、離子與反應中間體分析 -
Hiden LAS 是專為密封包裝與電池組件設計的自動化質譜洩漏分析系統，可分析氦氣、氬氣、CO₂、水蒸氣及揮發性電解液等填充氣體與示蹤物種，洩漏檢測能力可低於 1×10⁻⁷ mbar·L/s，並可依設定標準自動進行 Pass / Fail 判定。Learn MoreHiden LAS 自動化高通量密封包裝與電池洩漏分析系統 -
Hiden 提供完整且可互換的質譜取樣入口，涵蓋近大氣壓、高壓、低壓、高溫、超低流量、多流路、TGA-MS、OEMS／DEMS 與液體溶解氣體 MIMS 等應用，可依樣品壓力、溫度、流量與分析目的配置適合的取樣系統。Learn MoreHiden 質譜儀氣體、蒸氣與液體取樣系統 -
Hiden Compact SIMS 緊湊型二次離子質譜儀，專為表面污染、薄膜層結構、雜質、同位素與奈米級深度剖析設計，支援 SIMS、SNMS、2D／3D 成像與質譜分析。Learn MoreCompact SIMS 緊湊型二次離子質譜儀 -
Hiden AutoSIMS 全自動二次離子質譜表面分析系統，整合自動 X-Y 樣品台與模組化樣品架，支援 24/7 無人值守 Static／Dynamic SIMS、奈米級深度剖析與高通量批次分析。Learn MoreAutoSIMS 全自動二次離子質譜儀