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HPR-60 MBMS

Hiden HPR-60分子束質譜儀是一個緊湊的撇渣器入口質譜儀，用於分析大氣等離子體和反應性氣相的中間體。

自由基通過一個多級差分泵的撇渣器入口進行採樣，並在與其他物種的相互作用最小和無壁面碰撞的情況下轉移到MS離子源。可定制的入口允許連接到許多不同的反應器系統，包括大氣等離子體。

撇渣器系統與Hiden 三濾精密質譜儀相結合，提供了一個具有超快速回應和高精確度的採樣系統。

		演講稿：
		Hiden HPR-60分子束質譜儀（MBMS）用於定量分析活性氣體物種（介紹）
		Hiden HPR-60分子束質譜儀（MBMS）用於定量分析活性氣體種類（應用）
		海報：
		分子束質譜儀的大氣等離子體分析
		大氣壓力等離子體分析 ICPIG
		加工等離子體的品質和能量光譜學 ISSP 2007
		常壓等離子體中的分子束質譜法
		組合式等離子體催化劑反應器的反應研究
		等離子體輔助解吸電離質譜法（PADI-MS）的表面分析
		用分子束質譜法進行時間分辨的大氣等離子體調查