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實驗室壓延薄膜雜質檢測系統
CONTAMINATION DETECTOR FOR FILM CALENDARING
實驗室壓延薄膜雜質檢測系統
整合壓延成膜、高解析影像檢測與張力控制， 可針對高分子薄膜中的異物、魚眼、 黑點與材料分散狀況進行品質分析。
HAPRO 壓延式雜質檢測設備 採高速工業級線掃描相機與高亮度 LED 線光源， 搭配穩定的薄膜輸送與張力控制機構， 適合高品質薄膜與電纜絕緣材料研究。
- 20 μm 檢測解析度
- 壓延成膜厚度 0.3–1.0 mm
- 壓延成膜寬度小於 60 mm
系統概述
Integrated film calendaring and high-resolution contamination inspection system.
實驗室壓延薄膜雜質檢測系統 將高分子材料壓延成膜 與高解析視覺品質檢測整合於同一平台， 可進行連續式薄膜品質分析。
系統採用高速工業級線掃描相機 與均勻 LED 線光源， 在薄膜穩定移動的過程中 進行高解析影像擷取與缺陷辨識。
適合用於檢測薄膜中的外來異物、 魚眼、黑點及其他品質缺陷， 並可作為高壓電纜絕緣材料 與高品質高分子薄膜之研究及品質控制工具。
核心規格
20 μm
檢測解析度
16384 × 1
有效像素
48 kHz
最高行頻
>65 dB
動態範圍
主要特色
壓延成膜與雜質檢測整合
高速工業級線掃描相機
高亮度均勻 LED 線光源
20 μm 高解析影像檢測
高穩定度張力控制機構
異物、魚眼與黑點檢測
材料分散性與薄膜品質分析
適用高壓電纜絕緣材料
設備操作影片
HAPRO Contamination Detector for Film Calendaring demonstration.
主要檢測項目與應用
薄膜異物檢測
魚眼檢測
黑點檢測
材料分散性分析
壓延薄膜品質分析
電纜絕緣料檢測
高分子材料研究
配方品質比較
材料品質控制
光學檢測系統規格
| 規格項目 | 規格 | 規格項目 | 規格 |
|---|---|---|---|
| 鏡頭品牌 | 德國 Scheide | 相機品牌 | 美國 DALSA |
| 影像擷取卡 | 美國 DALSA | 工作模式 | 半幅 / 全幅模式 |
| 有效像素 | 16384 × 1 Valid Pixels | 增益設定範圍 | 1×–10× |
| 像素尺寸 | 3.5 μm | 資料輸出精度 | 8 bit / 20 bit 可設定 |
| 最高行頻 | 48 kHz | 資料輸出格式 | 串列資料格式 |
| 光譜響應範圍 | 400–1000 nm Typical | 動態範圍 | >65 dB |
量測系統規格
| 規格項目 | 規格 | 規格項目 | 規格 |
|---|---|---|---|
| 量測厚度 | 0.04–2 mm | 檢測解析度 | 20 μm |
| 壓延視場寬度 | 0–50 mm | 檢出率 | 100% |
| 測試速度 | >1 kg/h | 量測精度 | 1.0% F.S. |
| 環境潔淨度 | Class 10,000 | 電源 | 三相 AC 380 V |
| 操作溫度 | 0–40 °C | 收膜速度 | 0–110 mm/s |
| 環境濕度 | <65% | 輥筒冷卻方式 | 水冷 |
壓延成膜系統規格
| 規格項目 | 規格 |
|---|---|
| 壓延輥直徑 | 110 mm |
| 壓延輥間距 | 0.2–2.5 mm |
| 平模模具尺寸 |
60 × 1.5 mm，0.8 kW 可依需求客製 |
| 壓延成膜寬度 | <60 mm |
| 壓延成膜厚度 | 0.3–1.0 mm |
| 卷取控制方式 | 恆張力控制 |
壓延薄膜雜質檢測技術重點
- 壓延成膜與影像檢測整合
- 16384 × 1 有效像素
- 3.5 μm 像素尺寸
- 最高行頻 48 kHz
- 20 μm 檢測解析度
- 0.04–2 mm 量測厚度範圍
- 壓延視場寬度 0–50 mm
- 異物、魚眼、黑點分析
- 110 mm 壓延輥
- 0.3–1.0 mm 成膜厚度
- 恆張力卷取控制
- 高壓電纜絕緣料應用