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- HAPRO 哈普
- 材料缺陷與雜質檢測系統
- 實驗室薄膜雜質檢測系統
實驗室薄膜雜質檢測系統
FILM CONTAMINATION DETECTION SYSTEM
實驗室薄膜雜質檢測系統
整合薄膜成型與高解析視覺檢測技術， 可針對薄膜中的異物、魚眼、黑點與材料分散狀況 進行連續式品質分析。
HAPRO 薄膜雜質檢測系統 採高速線掃描相機與高亮度 LED 線光源， 可整合流延或壓延成膜設備， 適合高品質高分子材料與電纜絕緣料研究。
- 20 μm 檢測解析度
- 測量厚度 0.04–2 mm
- 壓延與流延兩種成膜方式
系統概述
High-resolution visual inspection system for polymer film contamination analysis.
實驗室薄膜雜質檢測系統 將薄膜成型設備與視覺品質分析系統整合， 可針對較薄之高分子薄膜與帶材 進行連續式線上檢測。
系統採用高速工業級線掃描相機 與高亮度 LED 線光源， 透過穩定的張力控制機構 維持薄膜平整與穩定移動， 提升影像擷取與缺陷辨識的重現性。
可用於偵測薄膜內之外來異物、 魚眼、黑點與其他品質缺陷， 特別適合高壓電纜絕緣材料 及高品質薄膜材料的品質研究。
核心規格
20 μm
檢測解析度
0.04–2 mm
薄膜測量厚度
100%
檢出率
>1 kg/h
測試速度
主要特色
高速工業級線掃描相機
高亮度平滑 LED 線光源
可分析外來異物、魚眼與黑點
20 μm 高解析檢測
適用 0.04–2 mm 薄膜
高穩定度張力控制
支援壓延與流延成膜系統
適合高壓電纜絕緣材料研究
薄膜品質檢測系統
Vision-based contamination inspection for polymer films.
主要檢測項目與應用
薄膜異物檢測
魚眼檢測
黑點檢測
材料分散性分析
高壓電纜絕緣料
高品質薄膜材料
流延薄膜品質分析
壓延薄膜品質分析
高分子材料品質控制
影像檢測系統規格
| 規格項目 | 規格 | 規格項目 | 規格 |
|---|---|---|---|
| 鏡頭品牌 | 德國 Scheide | 相機品牌 | 美國 DALSA |
| 影像擷取卡 | 美國 DALSA | 工作模式 | 半幅 / 全幅模式 |
| 解析度 | 16384 × 1 Valid Pixels | 增益設定範圍 | 1×–10× |
| 像素尺寸 | 3.5 μm | 資料輸出精度 | 8 bit / 20 bit 可設定 |
| 最高行頻 | 48 kHz | 資料輸出格式 | Serial Data Format |
| 光譜響應範圍 | 400–1000 nm Typical | 動態範圍 | >65 dB |
量測系統規格
| 規格項目 | 規格 | 規格項目 | 規格 |
|---|---|---|---|
| 量測厚度 | 0.04–2 mm | 檢測解析度 | 20 μm |
| 視場寬度 |
壓延：0–50 mm 流延：0–100 mm |
檢出率 | 100% |
| 測試速度 | >1 kg/h | 量測精度 | 1.0% F.S. |
| 環境潔淨度 | Class 10,000 | 電源 | 三相 AC 380 V |
| 操作溫度 | 0–40 °C | 收膜速度 | 0–110 mm/s |
| 環境濕度 | <65% | 輥筒冷卻方式 | 水冷 |
| 成膜方式 | 壓延或流延 | ||
成膜系統規格
| 規格項目 | 壓延式雜質檢測配置 | 規格項目 | 流延式雜質檢測配置 |
|---|---|---|---|
| 成膜輥直徑 | 壓延輥 110 mm | 成膜輥直徑 | 流延輥 200 mm |
| 壓延輥間距 | 0.2–2.5 mm | 流延輥中心高度 | 1 m |
| 平模模具 |
60 × 1.5 mm，0.8 kW 可依需求客製 |
流延膜模具 |
150 × 0.02–2.5 mm 厚度可調 |
| 壓延成膜寬度 | <60 mm | 流延成膜寬度 | <120 mm |
| 壓延成膜厚度 | 0.3–1.0 mm | 流延成膜厚度 | 0.02–0.5 mm |
| 卷取控制 | 恆張力控制 | 切邊裝置 | 自動 |
薄膜雜質檢測系統技術重點
- 高速線掃描影像檢測
- 16384 × 1 有效像素
- 3.5 μm 像素尺寸
- 最高行頻 48 kHz
- 20 μm 檢測解析度
- 0.04–2 mm 膜厚量測範圍
- 魚眼、黑點與異物檢測
- 材料分散性品質分析
- 支援壓延成膜
- 支援流延成膜
- 高壓電纜絕緣料檢測
- 高品質薄膜材料研究